Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪具有哪些优势特点?

发表时间:2021-12-06      点击次数:505
离子束切割仪是一种用于物理学领域的工艺试验仪器,用于样品的截面制备及平面抛光。Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪可以灵活选择多种样品台,不仅适用于高通量实验,也适合于特定制样需求实验室。仪器可用来制备横切面和抛光表面,用于扫描电子显微镜 (SEM)、微观结构分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 AFM 科研工作。
 
Leica EM TIC 3X 三离子束切割仪具有哪些优势特点?
 
1、*的三离子束系统,可获得更好的截面处理质量,快速获得宽且深的切割区域,大大降低工作时间。并可实现在一次处理过程中处理 3 个样品。因此对有高通量需求的实验室,徕卡EM TIC 3X是更理想的解决方案。
 
2、样品托:多种多样的样品托,适合于各类尺寸样品
 
3、可装配系统:根据样品制备需要,可以有针对性地在徕卡EM TIC 3X上装配一体化设计样品台——标准样品台、多样品台或冷冻样品台。
 
4、样品TOPO结构清晰可见:除了剖面切割,使用同一样品托还可对样品进行清洁及增强衬度的功能。
 
5、冷冻样品台:针对温度敏感型样品如橡胶或水溶性高分子聚合纤维等,可以使用冷冻样品台对样品进行低温下处理,获得高质量处理结果。样品托和挡板的温度都可达到-150℃。
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