徕卡离子减薄仪操作注意事项

发表时间:2022-08-03      点击次数:71
  徕卡离子减薄仪的薄轴承样品台在减薄过程中对离子束无遮挡。观察系统中做了特殊设计,无需加装其它光学系统,直接监视样品是否穿孔,十分方便,并装有自动防污染装置,防止照明及观察窗被污染。真空系统中装有防误操作系统,防止由于误放气而损害真空系统。
 
  对于透射显微术,样品制备是一个很重要的实验室环节,制备样品的质量起直接影响实验结果的重要性。目前基本上有两种制备透射电镜薄膜样品的方法:一是双喷电解减薄法;这种方法要求所制备的样品必须是导电材料,而且材料内部各相区之间电化学势的差别不能太悬殊,否则有的相区将产生择优腐蚀,限制了透射电子显微术的应用领域和效能发挥。
 
  徕卡离子减薄仪操作注意事项:
 
  1.必须经管理人员同意方可使用;
 
  2.样品在离子减薄前要通过机械研磨或凹坑,厚度要小于30um。
 
  3.样品台一定要水平(沿X轴方向)放置到样品室中。
 
  4.在离子减薄过程中,每个样品前60%的时间用10°角,中间20%的时间用7°角,20%的时间用4°角。
 
  5.离子枪每工作1小时一定要停止15分钟,如果连续工作会烧坏离子枪。
 
  6.离子束调节开关(lon Beam Modulator)要在Double状态,切忌在off状态。
 
  徕卡离子减薄仪适用性广泛,对金属,非金属,半导体,矿物,骨骼和牙齿等几乎所有固体材料都可以用离子减薄技术来制备透射薄膜样品。离子轰击材料各相区的择优倾向不明显,一般都可获厚度较为均匀地薄区,在电镜中观察时有更广阔的视野功选择,也可对样品进行大角度倾斜以获得预期结果。
 
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