• 徕卡离子减薄仪 Leica EM RES102主要功能为:对无机薄片样品进行离子减薄,使得薄片样品可被透射电子穿过,从而适宜TEM透射电子显微镜观察;对无机块状样品进行离子束抛光、离子束刻蚀,样品表面离子清洗及斜坡切割,便于SEM扫描电子显微镜观察样品内部结构信息。

    访问次数:917
    产品价格:面议
    厂商性质:代理商
    更新日期:2023-06-01
共 1 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
微信扫一扫
版权所有©2023 北京佳源伟业科技有限公司 All Rights Reserved    备案号:京ICP备2021037741号-1    sitemap.xml    管理登陆    技术支持:化工仪器网